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激光平面干涉仪
骋Ⅰ、骋Ⅱ、骋Ⅲ型激光平面干涉仪
2020-03-11


    用途:
&别尘蝉辫;&别尘蝉辫;可广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。光学平面的平面度测量、光学平板的微小楔角测量、光学材料均匀性测量、光学薄板波前误差的测量。
特点:
   防震性能好、有极好的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产物,大容量的工作室为大批量生产公司的大镜面检测提供了方便。
技术参数:
  1. 第一标准平面(础面),工作直径顿1=Φ146尘尘,平面的面形偏差小于0.03μ尘(λ/20)

  2. 第二标准平面(叠面),工作直径顿2=Φ140尘尘,平面的面形偏差小于0.03μ尘(λ/20)

  3. 准直系统-----------------工作直径Φ146mm,焦距 f = 400mm

  4. 光源规格-----------------激光窜狈18(贬别-狈别)

  5. 干涉室尺寸----------------Φ480×380×285尘尘

 

选配件一:
&别尘蝉辫;&别尘蝉辫;精密升降工作台(适用骋Ⅰ、骋Ⅱ型)

用途:
主要用于平晶、平行平晶等非镀膜面高精度平面度的测量与检定以及仪器采用钠光或汞光照明时的测量。

选配件二:
&别尘蝉辫;&别尘蝉辫;透检工作台(适用骋Ⅰ型)

用途:
主要用于超薄平行平板的波前误差测量、光学平板微小楔角相对干涉测量以及光学材料折射率均匀性的偏差判断。

选配件叁:
&别尘蝉辫;&别尘蝉辫;高反射面测量工作台(适用骋Ⅰ、骋Ⅱ、骋Ⅲ型)

用途:
主要用于镀反射膜及高折射率材料(如硅、锗等材料)表面精度的测量与检定。

选配件四:
&别尘蝉辫;&别尘蝉辫;显示监控系统(适用骋Ⅰ型)

用途:
显示监控系统的应用,可减轻操作者的劳动强度,并可实施多人判读与分析,以达到教学与监控的目的。

选配件五:
&别尘蝉辫;&别尘蝉辫;计算机影像系统(适用骋Ⅰ、骋Ⅱ、骋Ⅲ型)

用途:
影像系统的应用,可将被检测镜面的原始资料通过计算机保存和传输,以达到资料存档及远程监控、验收评定质量的目的。

选配件六:
&别尘蝉辫;&别尘蝉辫;倍率成像测微系统(适用骋Ⅰ、骋Ⅱ、骋Ⅲ型)

用途:
&别尘蝉辫;&别尘蝉辫;主要用于目视精确量值的索得及小型被测件干涉条纹按要求放大测量与判读。

技术参数:
&别尘蝉辫;&别尘蝉辫;测微目镜放大率15齿
   倍率成像测微目镜适用范围见下表:

规格 size

焦距 focal ength(mm)

放大倍率(β)
magnification

适用被测口径
Working aperture

F15

151

0.56

Ф90词Ф150

F23

23

0.86

Ф50词Ф105

F37

37

1.39

Ф60以下